Artikel meetsysteemanalyse gepubliceerd

Binaire meetschalen zijn verraderlijk eenvoudig

Een artikel van Tashi Erdmann (oud-consultant IBIS UvA), Thomas Akkerhuis, Jeroen de Mast en Stefan Steiner (University of Waterloo, Canada) is recentelijk geaccepteerd voor publicatie in Journal of Quality Technology.

In het artikel wordt een case over meetsysteemanalyse behandeld. Meetsysteemanalyse is een onderdeel van de Measure-fase in Lean Six Sigma projecten, en gaat over het kwantificeren van meetfout. Meetfout doet namelijk direct afbreuk aan de gelijkheid "meten is weten".

In dit geval wordt een binair meetsysteem in een industriële omgeving bekeken: het af- of goedkeuren van autosensoren. In het artikel wordt gedemonstreerd hoe een simpele "OK"/"niet OK"-beslissing vaak tot stand komt door ingewikkelde onderliggende structuren. De case gaat over een geautomatiseerd inspectiesysteem, en de vraag is: hoe betrouwbaar zijn de meetresultaten, en hoe kunnen we de betrouwbaarheid vergroten?

Het artikel is vanaf heden te vinden tussen onze wetenschappelijke publicaties.